Thorlabs的雙掃描狹縫式光束質(zhì)量分析儀非常適合分析近似高斯光束的截面輪廓。可以在2 Hz到20 Hz之間的掃描速率(可以使用軟件設(shè)定)下，測量光束截面中用戶指定的X軸和Y軸的強度輪廓。20 Hz的高掃描速率能夠?qū)崟r對準(zhǔn)光學(xué)系統(tǒng)。這些光束質(zhì)量分析儀主要用于連續(xù)激光束，也可以采用平均法測量大于10 Hz的脈沖光束。測量結(jié)果可用于評估光束質(zhì)量、檢查重建的光束輪廓以及監(jiān)測長期穩(wěn)定性。

這些掃描狹縫式光束質(zhì)量分析儀配有低噪聲電子元件，動態(tài)范圍高達78 dB，能夠測量直徑在2.5 µm和9 mm之間的光束。光束直徑參考ISO 11146標(biāo)準(zhǔn)測量，可按照多種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的限幅水平顯示，比如1/e2(13.5%)、50%或用戶設(shè)定的任意限幅水平值。

我們提供三種型號的雙掃描狹縫式光束質(zhì)量分析儀。BP209-VIS(/M)用于200 nm - 1100 nm，BP209-IR(/M)用于900 nm - 1700 nm，而BP209-IR2(/M)的使用波長范圍是擴展的近紅外波段，即900 nm - 2700 nm。所有型號都有一個Ø9 mm的入射孔徑，通過連續(xù)掃描兩個寬度相同且互相垂直的狹縫進行測量。使用軟件切換5 µm或25 µm寬的狹縫對、選擇掃描狹縫或刀口工作模式、設(shè)置其它掃描選項等。有關(guān)不同狹縫寬度和工作模式的功能和用法信息，請看工作標(biāo)簽。

Thorlabs的Beam軟件可以完全控制這些光束質(zhì)量分析儀的工作，且提供了多種用戶可調(diào)節(jié)的設(shè)置以及顯示與數(shù)據(jù)記錄選項。軟件可以在軟件標(biāo)簽下載，然后安裝到用戶的PC。光束質(zhì)量分析儀連接到裝有Beam軟件的PC時，不需要其他的硬件和電源。Thorlabs采用USB 2.0高速接口將測量頭連接到PC，所需的USB電線隨貨附帶。這些光束質(zhì)量分析儀具有靈活的數(shù)據(jù)輸出選項，以及用于美國儀器(National Instruments)軟件的數(shù)據(jù)接口，便于將其集成到自定義數(shù)據(jù)處理環(huán)境。更多有關(guān)軟件功能的信息，請看上面的用戶界面標(biāo)簽。

• 高精度分析近高斯光束質(zhì)量
• 重建2D和偽3D空間功率分布
• 單個獨立測量頭
• 測量連續(xù)光束或大于10 Hz的脈沖光束
• 掃描速率從2到20 Hz
• 集成功率計(請看用戶手冊了解校準(zhǔn)步驟)
• 動態(tài)范圍78 dB
• 低噪聲放大器
• USB 2.0高速接口連接PC

M2測量系統(tǒng)

基于BP209光束質(zhì)量分析儀的完整M2測量系統(tǒng)通過將下面出售的光束質(zhì)量分析儀與波長兼容的擴展裝置集成就可以搭建。基于BP209系列測量頭的完整M2測量系統(tǒng)的組件可以在提供的產(chǎn)品中購買，而有關(guān)Thorlabs M2測量系統(tǒng)，以及配置和購買基于BP209或BC106光束質(zhì)量分析儀系統(tǒng)的所有信息，請看M²測量系統(tǒng)頁面。